Park NX7原子力顯微鏡配有Park原子力顯微鏡前沿技術(shù)，其設(shè)計與新型顯微鏡一樣彰顯細節(jié)品質(zhì)，可以有效助您取得精準的研究成果。

通過消除掃描器串擾進行準確的XY掃描

ü 獨立閉環(huán)XY和Z柔性掃描器

ü 正交XY掃描

ü 樣品表面形貌信息測量精準，無需軟件處理

全面專業(yè)的原子力顯微鏡解決方案

ü 涵蓋多種掃描探針顯微鏡的掃描模式

ü 更智能的NX電子控制器默認啟用高級納米機械測量模式

ü 擁有業(yè)界前沿的兼容性和可升級性

人性化設(shè)計的軟件和硬件功能

ü 方便樣品或換針的開放式使用

ü 預(yù)對準的探針夾設(shè)計，可輕易直觀的進行SLD光校準

ü Park SmrtScanTM - 原子力顯微鏡操作軟件可以幫助初次使用用戶和專業(yè)用戶進    行專業(yè)的納米級研究。

無耦合關(guān)系的XY和Z掃描器

Park的核心技術(shù)在于專有的掃描器架構(gòu)。基于獨立XY掃描器和Z掃描器設(shè)計的撓曲結(jié)構(gòu)，能讓您輕松獲得高精度納米級分辨率數(shù)據(jù)。

低噪聲Z探測器

Park AFM 配備了低噪聲Z探測器，噪音水平低于0.02 nm,因而達到了樣品形貌成像精準，沒有邊沿過沖無需校準的高效率。Park NX系列不僅為您提供高精準的數(shù)據(jù)，更為您大大節(jié)省了時間成本。

由低噪聲Z探測器測量準確的樣品形貌

ü 利用低噪聲Z探測器信號進行形貌成像

ü 有高寬帶，Z探測器低噪聲只有0.02 nm

ü 邊緣位置無前沿或后沿過沖現(xiàn)象

ü 只需在原廠校準一次

樣品: 1.2 μm標準臺階高度
(9 μm x 1 μm, 2048 pixels x 128 lines)

Park NX7原子力顯微鏡參數(shù)

Scanner

Z掃描器

柔性引導(dǎo)高推動力掃描器
Z掃描范圍: 15 μm (30 μm可選)

XY掃描器

閉環(huán)控制式單模塊柔性XY掃描器
掃描范圍: 50 µm × 50 µm
(可選 10 μm × 10 μm 或 100 μm × 100 μm)

位移臺

Z位移臺

Z位移臺行程范圍: 26 mm

XY位移臺

XY位移臺行程范圍: 13 mm X 13 mm

樣品架

樣品大小 : up to 50 mm
樣品厚度: up to 20 mm

軟件

SmartScan

AFM系統(tǒng)控制和數(shù)據(jù)采集軟件
智能模式的快速設(shè)置和簡易成像
手動模式的高級使用和更精密的掃描控制

SmartAnalysis

AFM數(shù)據(jù)分析軟件
獨立設(shè)計—可以安裝和分析AFM以外的數(shù)據(jù)
能夠生成采集數(shù)據(jù)的3D繪制